測試負載闆是一種連接測試設備與被測器件的機械及電(diàn)路接口，主要應用(yòng)在半導...
探針卡在CP測試中(zhōng)用(yòng)于連接測試機和Die上的Pad，通常作(zuò)為(wèi)Loadboard的物(wù)理(lǐ)接口...
BIB（BURN IN BOARD，老化測試），完成封裝(zhuāng)測試的IC在特定的工(gōng)況和時間内老化測試...
Probe card 的信号通過interposer中(zhōng)介層的轉換讓Probe head（探針頭）的探針可(kě)以接收到信号...
