探針卡在CP測試中(zhōng)用(yòng)于連接測試機和Die上的Pad，通常作(zuò)為(wèi)Loadboard的物(wù)理(lǐ)接口，在某些情況下ProbeCard通過插座或者其它接口電(diàn)路附加 到Loadboard上。應用(yòng)：晶元切割前，透過pc可(kě)以測試晶圓品質(zhì)，避免不良産(chǎn)品産(chǎn)生封裝(zhuāng)成本。
